一、可编程逻辑器件PLD的应用（论文文献综述）
唐家燕[1]（2017）在《可编程逻辑器件在电力电子控制技术中的应用》文中提出随着电力电子技术的发展,电力电子控制技术逐渐向智能化和高效性方向发展。在电力电子控制技术中的信号处理领域中可编程逻辑器件得到了广泛的应用,可编程逻辑器件具有处理速度快的特点。文章对可编程逻辑器件的特点和应用进行了分析,结合可编程逻辑器件的高速度和高集成性的特点,提出了可编程逻辑器件在电力电子控制技术中的应用的设计方案,对可编程逻辑器件在电力电子控制技术中应用进行了分析和研究。
王康,沈祖斌[2]（2015）在《PLD的发展简史及应用展望》文中提出在半导体技术发展的推动下,可编程逻辑器件迎来了前所未有的发展机遇且实现了较大的突破,具有良好的在线修改能力即随时修改设计而不必改动其硬件电路的特点,如今它已成为电子设计领域中最具发展前途的器件。本文介绍了可编程逻辑器件的发展简史及它在数字电路实验、通信系统和ASIC设计三个领域中的应用,最后展望了可编程逻辑器件的发展趋势。
刘显忠[3]（2013）在《基于CPLD的实验板研制开发与教学应用》文中研究说明电子设计自动化（EDA）是一种实现电子系统或电子产品自动化设计的技术，EDA技术的重要特征就是使用硬件描述语言（HDL）等方式来完成设计文件，下载到可编程逻辑器件上进行电路设计。进入二十一世纪以来，随着半导体制造技术的飞速发展，使得原本造价高昂的CPLD/FPGA芯片成为常规ASIC设计的主流。本文通过查阅了大量的文献资料，并研究了部分高校PLD实验教学方面的经验。在面向本校教学应用的需求基础上，研制开发了一套适合课程需要的基于CPLD的教学实验板。本文首先介绍EDA技术和PLD的基本情况，重点对CPLD的工作原理、结构特点等进行介绍。然后，对PLD课程进行了课程分析和实验需求分析。在此基础上，研制开发了一款基于CPLD的实验板。给出了实验板的硬件模块化布局和设计，各功能模块设计和芯片选择等。最后，在成形的硬件设计基础上，本文还讨论开发软件的使用，结合实验板给出了实验板的基本实验举例。
徐云厚[4]（2013）在《可编程逻辑器件测试系统》文中进行了进一步梳理随着可编程器件（PLD）的应用越来越广泛,可编程器件的测试技术也越来越受到重视,很多的单位和个人加入到芯片测试这一领域,有力地推动了芯片测试技术的发展。由于可编程器件的电路规模大、结构复杂,高覆盖率的自动化测试一直是可编程器件设计与生产上的难点,同时测试一种可编程器件结构需要大量的时间设计测试方案,测试成本较高。目前国内外针对不同场合的PLD测试系统的研究取得了很多成果,实现了大量可以实用的测试系统,这些测试系统大致可以分为两大类：首先是基于自主研制的测试系统,一般由上位机软件、通信电缆、控制电路以及待测PLD组成；其次是基于自动化测试设备（Automatic Test Equipment, ATE）的测试系统,使用ATE平台研发的测试系统则由ATE来完成自主研制测试系统中上位机软件和控制电路的功能,只需ATE和待测PLD即可完成测试。ATE可以一次完成待测PLD的多次配置与测试,从而减少了人工操作,提高了PLD的测试效率,便于实现PLD的制造测试。基于ATE的测试平台,效率高,功能强大,但是ATE高昂的价格不是一般单位和个人所能承受的,因此本文所研究的是一款属于自主研制的测试系统。本测试系统以Lattice公司的一款CPLD芯片IsPLsi1032E为主要研究对象,在详细研究CPLD内部结构的基础上,基于“分治法”的基本思路,采用三次“配置+测试”,对该芯片可能出现的故障和基本性能指标予以测试,配置次数少,效率较高,测试结果符合要求,性价比较高。本测试系统也是由上位机软件、通信电缆、控制电路以及待测PLD组成。上位机软件发送相应的测试命令,通过通信电缆传送给控制电路,控制电路根据上位机命令控制相应继电器通断,发送测试向量,然后接收测试响应并通过通信电缆返回给上位机,上位机接收到测试响应进行分析、显示,一次“配置+测试”完成。该测试系统控制灵活且针对性强,比较适合研究和验证。本论文就是在此基础上完成的,主要内容分为五章进行阐述。第一章为绪论,这部分首先介绍了可编程逻辑器件测试系统的背景,接着介绍了可编程逻辑器件在数字电路设计方面具有的优势及其进一步的发展趋势、几种流行测试的方法,最后介绍了国外在可编程器件测试系统领域所取得的成果及国内有关可编程逻辑器件发展的现状以及本测试系统所做的主要工作；第二章为测试系统总体方案设计,首先对本测试系统进行总体概述,其次是测试的基本原理,主要是本测试系统从哪些方面进行展开及测试的基本过程；第三章为系统硬件设计,首先主要介绍了主要芯片及测试板主控部分各个模块的功能设计,其次简要介绍了待测芯片及待测部分电路各个模块的设计；第四章为系统软件设计,软件部分主要包括可编程器件逻辑功能的设计和上位机软件的设计。首先介绍了可编程逻辑器件设计语言的选择,接着介绍了主控芯片和待测芯片的软件开发平台及其各自逻辑功能的实现,最后介绍了上位机软件开发平台的选择以及上位机软件各项功能的实现；第五章为IspLsi1032E测试系统的总体实现,本章为测试系统的关键部分,首先主要介绍了复杂可编程逻辑器件CPLD,接着对本测试系统所要测试的待测CPLD的内部结构进行了详细分析并提出基本测试思路以及测试的基本操作流程,最后详细介绍了系统的测试步骤,并对所用算法进行了说明,第六章为结论与展望,首先对本人研究生阶段完成的工作进行总结,最后对本测试系统的进一步改进从软件和硬件两方面提出自己的意见。
宋赟[5]（2011）在《PLD安全缺陷模拟仿真关键技术研究》文中提出PLD（Programmable Logic Device）是现代电子设备的核心芯片之一,对PLD安全缺陷相关技术的研究有利于发现并消除电子设备中存在的安全缺陷,具有重要的研究价值和现实意义。本文以国家“863计划”课题（课题编号2009AA01Z434）的研究开发为背景,以目前电子设备中广泛应用的PLD芯片为研究对象,重点研究了PLD安全缺陷的特征和工作机理,在此基础上构建了PLD安全缺陷的仿真平台,并在该平台上进行了PLD安全缺陷的仿真与测试。论文的主要工作和贡献包括:1.对比分析了PLD安全缺陷与软件恶意代码的异同;提出了PLD安全缺陷的层次化分类方法;从PLD安全缺陷的存在形式、唤醒模式和隐藏机制出发,分析了PLD安全缺陷的工作机理;基于PLD产业链的攻击过程,建立了PLD安全缺陷的威胁模型。2.分析了多种现有的安全缺陷实验设备的结构,重点研究了利用这些设备进行安全缺陷模拟仿真的局限性,结合PLD安全缺陷自身固有的特点,设计了基于PC架构的PLD安全缺陷仿真平台的实现方案,研究了仿真平台构建过程中需要解决的多项关键技术。3.设计实现了PLD安全缺陷仿真平台,详细介绍了接口模块、主控模块和触发模块等的设计与实现;以三种典型的安全缺陷（总线强占、PCI扩展ROM和信息泄露）的仿真为例,介绍了利用该平台进行PLD安全缺陷仿真的过程和方法;最后,对仿真平台数据传输的正确性和稳定性、三种类型安全缺陷的有效性、安全缺陷的隐蔽性和触发条件进行了测试,测试结果正确有效。
周丽[6]（2010）在《PLD安全性漏洞检测平台研究与实现》文中研究说明集成电路安全性漏洞检测是针对芯片缺陷发现、硬件攻击后门消除、电子设备维护以及提升我国集成电路设计能力等需要提出的,是从基础层面保障信息安全的有力手段。本文以国家“863”目标导向课题（2009AA01Z434）的研究开发为背景,针对目前数字电路产品中广泛使用的可编程逻辑器件PLD（Programmable Logic Device）为研究对象,重点开展了逻辑未知器件外部特征属性判别、逻辑安全性漏洞检测、安全性漏洞可视化等为主要内容的关键技术研究。在此基础上设计实现了一种可编程逻辑器件安全性漏洞检测平台,并利用该检测平台对PLD内部可能存在的各种安全性漏洞进行了系统测试,测试结果表明论文研究成果达到了预期目标。论文的主要内容、贡献和创新点包括:1、通过对可编程逻辑器件内部结构、PLD安全性漏洞的存在形式和工作机理的分析,构建了逻辑器件安全性漏洞检测模型,通过该模型研究了如何对PLD中存在的安全性漏洞进行检测,同时提出了漏洞检测过程中需要解决的主要问题。2、针对影响芯片引脚属性判别时间复杂度和准确性的关键性问题,提出了时钟引脚和使能引脚分类判别的思想。利用该思想对已有的芯片引脚外部特征属性同步判别法进行了优化,以提高判别效率和准确率。3、根据PLD安全性漏洞存在的特点,提出利用脱机状态激励发现和在线状态对比的方法实现安全性漏洞的识别,在此基础上运用可视化技术实现了待检测芯片状态转移图及状态属性的显示。4、基于PC架构设计并实现了一种PLD安全性漏洞检测平台。运用该平台对样例芯片进行了测试,通过测试证明了论文研究讨论的多项PLD安全性漏洞检测技术是正确有效的。
袁哲[7]（2010）在《基于单向壳核函数的公钥密码研究》文中指出针对传统公钥密码在构造时,出现单向性和陷门性的矛盾问题,本文提出一种新型的公钥密码体制——单向壳核函数。本文首先介绍了HFE公钥密码和可编程逻辑器件PLD这两种技术。然后,引入了单向壳核函数的基本结构,并且基于HFE公钥密码的思想和基于可编程逻辑器件PLD的思想,分别构造了两种形式的单向壳核函数。接着,使用当前对MQ公钥密码主要的攻击方案,对基于HFE公钥密码思想所构造的单向壳核函数进行安全分析,证明此种构造形式具有很高的安全性;使用一次一密的安全性问题,说明基于可编程逻辑器件PLD思想所构造的单向壳核函数具有极高的安全性。最后,根据单向壳核函数的结构特点,给出了三种最基本的密钥交换（约定）方案及其扩展方案,当事双方可以灵活地使用加壳函数和剥壳函数进行变换,从而完成密钥交换（约定）。相对于传统的公钥密码体制,单向壳核函数具有灵活性强,变化多,安全性更高的优点,为人们提供了一种包容性更广的公钥密码体制。S S?1
黄国辉[8]（2009）在《CPLD架构研究》文中进行了进一步梳理可编程逻辑器件诞生近三十年以来,已经成为数字电路最常用的实现载体。目前的CPLD/FPGA芯片结构大部分都是基于乘积项结构和查找表结构。一般来说,使用乘积项结构的芯片,我们称之为CPLD,使用查找表结构的芯片,称为FPGA芯片。本课题通过对各家CPLD架构的分析研究,提出一种基于乘积项结构的可编程逻辑器件架构,同时设计完成基于此架构的CPLD产品HWD1472。并根据HWD1472的设计成果实现CPLD的系列化设计——HWD1400系列。同时,对比XC9500与XC9500XL和XC9500XV系列器件,对于采用XC9500系列器件通过工艺移植的方式实现XC9500XL和XC9500XV系列的可行性进行分析。同时提出一种兼容性解决方案,采用XC9500系列替代MAX7000S系列及ISPLSI1000系列复杂可编程逻辑器件的解决方案。本人在HWD1472及HWD1400系列器件的研发过程中,主要负责整体电路设计及仿真验证工作,并负责工艺移植及兼容方案的整体设计工作。本文首先对于可编程逻辑器件的发展现状及可编程逻辑器件的架构发展历程进行简单介绍,接着介绍XILINX的XC9500系列、ALTERA的MAX7000S系列和LATTICE的ISPLSI1000系列器件的架构,进而阐述了HWD1472及HWD1400系列器件的设计实现过程;然后提出XC9500工艺移植是否可行;最后提出了具体的兼容性解决方案。通过本课题对CPLD架构的研究,对于我们公司进行CPLD的设计开发具有参考价值,可以指导我们的CPLD的设计方向。为公司成为中国的第一大CPLD供应商做好技术储备工作。
熊宣淋[9]（2009）在《通用型阵列逻辑器件的版图设计》文中认为可编程逻辑器件在数字电路设计中一直扮演着重要的角色。与专用集成电路（ASIC,Application Specific Integrated Circuits）芯片不同,可编程逻辑器件（Programmable Logic Device,PLD）在设计完成时并没有确定的逻辑功能,而是可以在流片之后,由用户根据自己的实际需求对其进行编程,赋予可编程器件具体的逻辑功能。可编程逻辑器件从70年代发展至今,已经历过PROM、EPROM、PLA、PAL、GAL等多个品种。PLD器件的研究设计为以后复杂可编程逻辑器件打下坚实的基础。本文的研究课题是从一个简单的PLD结构入手,详细分析PLD器件的组成,它由“与”阵列和“或”阵列构成。与阵列产生有关与项,或阵列将所有与项构成“与或”的形式。由于任何组合逻辑函数均可化成与或的形式,而任何时序电路均可由组合逻辑电路加上存储元件（触发器）构成,所以PLD的“与或”结构对实现数字电路具有普遍意义。本文研究的主要内容是以EEPROM BIT Cell为中心,构建完整的GAL器件。在全面理解了浮栅单元的工作原理基础上,围绕GAL的构成原理,搭建了完整的GAL电路原理图;完成了GAL器件的全面仿真;顺利的完成了GAL器件的版图布局布线。在整个GAL器件的设计过程中,不断优化、改进电路设计,为了得到更多的关于EEPROM BIT Cell的数据,专门设计了一个用于测试各类EEPROM单元的测试芯片。该芯片在公司的支持下,在0.35um EECOMS工艺上成功的进行试投片,从测试的结果来看,已经取得了很好的结果。目前该芯片还存在一些遗憾,但通过我们不断的努力,完全解决该缺陷。
潘锐捷,陈彪,刘西安[10]（2008）在《可编程逻辑器件的历程与发展》文中提出可编程逻辑器件逐渐成为微电子技术发展的主要方向,文章概述了可编程逻辑器件（PLD）的分类、发展历史与发展现状。现场可编程门阵列（FPGA）和复杂可编程逻辑器件（CPLD）是可编程逻辑器件技术按其内部结构不同延伸出的两个分支,文中讨论了它们各自的优缺点,并对它们作了比较。文中特别介绍了FPGA产品的主要生产厂家,以及四大厂家各自产品的应用领域,分别给出了Xilinx公司和ALTERA公司FPGA产品的谱图,最后展望了FPGA产品的未来发展趋势。
二、可编程逻辑器件PLD的应用（论文开题报告）
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
本文主要提出一款精简64位RISC处理器存储管理单元结构并详细分析其设计过程。在该MMU结构中,TLB采用叁个分离的TLB,TLB采用基于内容查找的相联存储器并行查找,支持粗粒度为64KB和细粒度为4KB两种页面大小,采用多级分层页表结构映射地址空间,并详细论述了四级页表转换过程,TLB结构组织等。该MMU结构将作为该处理器存储系统实现的一个重要组成部分。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
三、可编程逻辑器件PLD的应用（论文提纲范文）
（2）PLD的发展简史及应用展望（论文提纲范文）
| 1 可编程逻辑器件发展简史 |
| 2 可编程逻辑器件典型应用领域 |
| 2.1 在数字电路实验中的应用 |
| 2.2 在通信系统中的应用 |
| 2.3 在ASIC设计中的应用 |
| 3 可编程逻辑器件发展趋势 |
| 3.1 向高密度、低压、低功耗方向发展 |
| 3.2 成本不断降低 |
| 3.3 片上集成资源不断丰富 |
| 3.4 向SOPC方向发展 |
| 3.5 向软核、硬核混合的结构方向发展 |
（3）基于CPLD的实验板研制开发与教学应用（论文提纲范文）
| 中文摘要 |
| Abstract |
| 第1章 绪论 |
| 1.1 研究背景 |
| 1.2 EDA 技术简介 |
| 1.3 可编程逻辑器件简介 |
| 1.4 研究的目的与意义 |
| 1.5 研究内容和成果 |
| 1.6 论文主要完成的工作 |
| 1.7 文章结构 |
| 第2章 可编程逻辑器件基础 |
| 2.1 可编程逻辑器件介绍 |
| 2.1.1 可编程逻辑器件概述 |
| 2.1.2 可编程逻辑器件的两大类型 |
| 2.1.3 可编程逻辑器件的优点 |
| 2.1.4 可编程逻辑器件的前景 |
| 2.1.5 可编程逻辑器件的编程语言 |
| 2.2 CPLD 的基础知识 |
| 2.2.1 CPLD 的基本架构 |
| 2.2.2 CPLD 的在系统下载技术 |
| 2.2.3 CPLD 的开发流程 |
| 2.3 本章小结 |
| 第3章 基于 CPLD 的实验板的设计 |
| 3.1 实验板服务课程简介 |
| 3.2 实验与实验板需求分析 |
| 3.3 实验板的总体设计 |
| 3.3.1 实验板的总体设计思想 |
| 3.3.2 实验板的总体设计 |
| 3.3.3 实验板的模块电路设计 |
| 3.4 本章小结 |
| 第4章 基于的 CPLD 实验板应用举例 |
| 4.1 CPLD 的开发软件介绍 |
| 4.1.1 MAX﹢plusⅡ软件基本功能 |
| 4.1.2 绘图输入法 |
| 4.1.3 文本输入法 |
| 4.2 验证性实验举例 |
| 4.2.1 半加器设计实验 |
| 4.2.2 4位二进制加法计数器的设计 |
| 4.3 综合性实验举例 |
| 4.4 实验板在教学中的使用情况 |
| 4.5 本章小结 |
| 结论 |
| 参考文献 |
| 附录 1 |
| 附录 2 |
| 致谢 |
（4）可编程逻辑器件测试系统（论文提纲范文）
| 摘要 |
| Abstract |
| 第1章 绪论 |
| 1.1 课题背景及意义 |
| 1.2 国内外研究动态 |
| 1.3 主要工作及内容安排 |
| 第2章 测试系统总体方案设计 |
| 2.1 测试系统的总体结构概述 |
| 2.2 测试的基本原理 |
| 2.3 通信接口及上位机软件选择 |
| 2.4 本章小结 |
| 第3章 系统硬件设计 |
| 3.1 IspLsi1032测试板主控部分设计 |
| 3.2 IspLsi1032测试板被测部分设计 |
| 3.3 本章小结 |
| 第4章 系统软件设计 |
| 4.1 可编程逻辑器件设计语言 |
| 4.2 可编程逻辑器件逻辑功能设计 |
| 4.3 上位机软件设计 |
| 4.4 本章小结 |
| 第5章 IspLsi1032E测试系统的实现 |
| 5.1 复杂的可编程逻辑器件CPLD |
| 5.2 CPLD器件IspLsi1032E |
| 5.3 测试内容及基本流程 |
| 5.4 测试步骤及算法分析 |
| 5.5 本章小结 |
| 第6章 结论与展望 |
| 6.1 工作结论 |
| 6.2 工作展望 |
| 致谢 |
| 参考文献 |
| 个人简介 |
| 附录 |
| 附录1 IspLsi1032E测试板部分原理图 |
| 附录2 IspLsi1032E测试板 |
（5）PLD安全缺陷模拟仿真关键技术研究（论文提纲范文）
| 表目录 |
| 图目录 |
| 摘要 |
| ABSTRACT |
| 第一章 绪论 |
| 1.1 课题研究背景 |
| 1.2 选题的目的和意义 |
| 1.3 研究现状概述 |
| 1.4 本文主要研究内容 |
| 1.5 论文的组织结构 |
| 第二章 PLD 安全缺陷研究 |
| 2.1 PLD 安全缺陷与软件恶意代码 |
| 2.1.1 共同特征 |
| 2.1.2 主要差别 |
| 2.2 PLD 安全缺陷层次化分类方法 |
| 2.2.1 硬件木马的分类方法 |
| 2.2.2 PLD 安全缺陷的层次化分类 |
| 2.3 PLD 芯片内部结构 |
| 2.4 PLD 安全缺陷 |
| 2.4.1 PLD 安全缺陷定义 |
| 2.4.2 PLD 安全缺陷的存在形式 |
| 2.4.3 PLD 安全缺陷的唤醒模式 |
| 2.4.4 PLD 安全缺陷的隐藏机制 |
| 2.5 PLD 安全缺陷的威胁分析 |
| 2.5.1 PLD 芯片产业链分析 |
| 2.5.2 PLD 安全缺陷威胁模型 |
| 2.6 本章小结 |
| 第三章 PLD 安全缺陷仿真平台的构建技术研究 |
| 3.1 现有安全缺陷实验设备分析 |
| 3.2 仿真平台的结构设计 |
| 3.2.1 确定仿真平台基本架构 |
| 3.2.2 仿真平台涉及的技术方案 |
| 3.3 本章小结 |
| 第四章 PLD 安全缺陷仿真平台的设计与实现 |
| 4.1 仿真平台总体结构 |
| 4.1.1 硬件模块 |
| 4.1.2 软件模块 |
| 4.2 PCI 9054 接口逻辑的设计与实现 |
| 4.2.1 接口芯片的选择 |
| 4.2.2 PC19054 的结构 |
| 4.2.3 PC19054 接口设计 |
| 4.3 仿真平台中FPGA 部分的设计与实现 |
| 4.3.1 FPGA 芯片的选择 |
| 4.3.2 XC35400 的配置电路设计 |
| 4.3.3 FPGA 模块总体设计 |
| 4.4 PLD 安全缺陷触发模块的设计与实现 |
| 4.4.1 无线模块的设计与实现 |
| 4.4.2 温度模块的设计与实现 |
| 4.4.3 键盘触发模块的设计与实现 |
| 4.4.4 网络数据包触发的设计与实现 |
| 4.5 三种类型的PLD 安全缺陷 |
| 4.5.1 PCI 总线强占缺陷的设计与实现 |
| 4.5.2 PCI 扩展ROM 缺陷的设计与实现 |
| 4.5.3 信息泄露缺陷的设计与实现 |
| 4.6 本章小结 |
| 第五章 测试与结果分析 |
| 5.1 测试环境 |
| 5.2 测试内容与测试方案 |
| 5.2.1 测试内容 |
| 5.2.2 测试方案 |
| 5.3 测试步骤和结果分析 |
| 5.3.1 平台数据传输的正确性和稳定性测试步骤和结果分析 |
| 5.3.2 PLD 安全缺陷模拟仿真测试步骤和结果分析 |
| 5.3.3 PLD 安全缺陷隐蔽性和触发条件的测试步骤及结果分析 |
| 5.4 本章小结 |
| 结束语 |
| 一、本文工作总结 |
| 二、下一步工作展望 |
| 参考文献 |
| 作者简历 攻读硕士学位期间完成的主要工作 |
| 致谢 |
（6）PLD安全性漏洞检测平台研究与实现（论文提纲范文）
| 摘要 |
| ABSTRACT |
| 第一章 绪论 |
| 1.1 论文研究主要内容 |
| 1.2 论文研究意义 |
| 1.3 论文研究主要方法和技术路线 |
| 1.4 国内外相关研究现状 |
| 1.5 论文主要研究工作 |
| 1.6 论文组织结构 |
| 第二章 PLD安全性漏洞分析与检测原理 |
| 2.1 逻辑器件安全性漏洞分析 |
| 2.1.1 PLD内部结构分析 |
| 2.1.2 PLD安全性漏洞存在形式 |
| 2.2 安全性漏洞黑箱检测原理 |
| 2.2.1 黑箱检测思想 |
| 2.2.2 安全性漏洞检测模型 |
| 2.2.3 安全性漏洞检测流程 |
| 2.3 检测主要问题分析 |
| 2.4 本章小结 |
| 第三章 PLD安全性漏洞检测平台总体架构及关键技术 |
| 3.1 检测平台总体设计目标 |
| 3.2 检测平台架构设计 |
| 3.2.1 检测平台总体架构 |
| 3.2.2 检测平台硬件架构 |
| 3.2.3 检测平台软件架构 |
| 3.3 PLD安全性漏洞检测关键技术研究 |
| 3.3.1 改进的同步判别算法 |
| 3.3.2 异常状态检测技术 |
| 3.3.3 冗余功能检测技术 |
| 3.4 本章小结 |
| 第四章 PLD安全性漏洞检测平台设计与实现 |
| 4.1 I/O控制电路设计与实现 |
| 4.2 译码电路设计与实现 |
| 4.3 动态适配设计与实现 |
| 4.4 检测接口设计与实现 |
| 4.4.1 总线接口电路设计与实现 |
| 4.4.2 芯片锁紧座电路设计与实现 |
| 4.5 上层软件系统设计与实现 |
| 4.5.1 改进的同步判别算法设计与实现 |
| 4.5.2 安全性漏洞检测设计与实现 |
| 4.5.3 安全性漏洞可视化设计与实现 |
| 4.6 本章小结 |
| 第五章 系统测试 |
| 5.1 测试环境 |
| 5.1.1 系统测试的硬件环境 |
| 5.1.2 系统测试的软件环境 |
| 5.2 测试方案 |
| 5.2.1 测试方法 |
| 5.2.2 测试步骤 |
| 5.3 测试结果与性能分析 |
| 5.3.1 系统性能测试 |
| 5.3.2 系统正确性测试 |
| 5.4 本章小结 |
| 结束语 |
| 参考文献 |
| 作者简历 攻读硕士学位期间完成的主要工作 |
| 致谢 |
（7）基于单向壳核函数的公钥密码研究（论文提纲范文）
| 提要 |
| 第1章 绪论 |
| 1.1 研究背景和意义 |
| 1.2 公钥密码的现状及发展 |
| 1.3 本文的主要工作 |
| 第2章 密码学简介 |
| 2.1 对称密码体制 |
| 2.1.1 DES数据加密标准 |
| 2.1.2 AES数据加密标准 |
| 2.2 公钥密码体制 |
| 2.2.1 RSA公钥密码体制及密钥约定方案 |
| 2.2.2 Diffie-Hellman密钥交换算法 |
| 2.3 本章小结 |
| 第3章 HFE公钥密码体制及可编程逻辑器件PLD介绍 |
| 3.1 HFE公钥密码体制 |
| 3.1.1 HFE公钥密码原理 |
| 3.1.2 HFE公钥密码举例 |
| 3.2 可编程逻辑器件PLD介绍 |
| 3.2.1 基本逻辑门电路 |
| 3.2.2 可编程逻辑器件PLD |
| 3.3 本章小结 |
| 第4章 单向壳核函数的构造及密钥约定方案 |
| 4.1 单向壳核函数的引入 |
| 4.2 单向壳核函数的密钥约定方案 |
| 4.3 单向壳核函数的设计思想 |
| 4.4 单向壳核函数的构造 |
| 4.4.1 基于HFE公钥密码体制的构造方案 |
| 4.4.2 基于可编程逻辑器件PLD的构造方案 |
| 4.5 本章小结 |
| 第5章 单向壳核函数的安全分析及密钥约定的扩展方案 |
| 5.1 基于HFE单向壳核函数的安全分析 |
| 5.1.1 针对MQ公钥密码的攻击方法 |
| 5.1.2 基于HFE思想单向壳核函数的安全分析 |
| 5.2 基于PLD单向壳核函数的安全分析 |
| 5.3 单向壳核函数密钥约定的扩展方案 |
| 5.4 本章小结 |
| 第6章 模拟实验 |
| 6.1 实验环境 |
| 6.2 实验流程 |
| 6.3 本章小结 |
| 第7章 总结与展望 |
| 7.1 本文总结 |
| 7.2 未来展望 |
| 参考文献 |
| 致谢 |
| 摘要 |
| ABSTRACT |
（8）CPLD架构研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| ABSTRACT |
| 第一章 绪论 |
| 1.1 可编程逻辑器件的发展及现状 |
| 1.2 可编程逻辑器件的优点及应用 |
| 1.2.1 可编程逻辑器件的优点 |
| 1.2.2 可编程逻辑器件的应用 |
| 第二章 可编程逻辑器件架构发展过程 |
| 2.1 早期可编程逻辑器件架构 |
| 2.2 目前可编程逻辑器件架构 |
| 2.2.1 乘积项结构 |
| 2.2.2 乘积项结构工作原理 |
| 2.2.3 查找表(look-up-table)结构 |
| 2.2.4 查找表结构的工作原理 |
| 第三章 CPLD 架构分析 |
| 3.1 XINILIX 公司XC9500 架构分析 |
| 3.1.1 总体架构分析 |
| 3.1.2 核心单元架构分析 |
| 3.2 ALTERA 公司MAX7000S 架构分析 |
| 3.2.1 总体架构分析 |
| 3.2.2 核心单元架构分析 |
| 3.3 LATTICE-ISPLSI1000 架构分析 |
| 3.3.1 总体架构分析 |
| 3.3.2 核心单元架构分析 |
| 第四章 HWD1400 系列架构设计实现 |
| 4.1 HWD1472 架构的设计实现 |
| 4.1.1 实现4 个宏单元的PLD 设计 |
| 4.1.2 CPLD 映射关系的设计 |
| 4.1.3 CPLD 中的FLASH 的设计方案 |
| 4.1.4 JTAG 电路的设计实现 |
| 4.1.5 完成HWD1472 器件的架构设计 |
| 4.1.6 HWD1472 功能仿真 |
| 4.1.7 HWD1472 器件流片实验 |
| 4.2 HWD1400 系列器件架构设计实现 |
| 4.2.1 总结HWD1472 的设计经验 |
| 4.2.2 研究设计HWD1400 各个型号差异 |
| 4.2.3 HWD1400 系列映射关系设计 |
| 4.2.4 HWD1400 系列器件的架构设计 |
| 4.2.5 HWD1400 系列器件功能仿真 |
| 4.2.6 HWD1400 系列器件流片实验 |
| 第五章 兼容性解决方案 |
| 5.1 XC9500XL 及XC9500XV 工艺移植可行性 |
| 5.1.1 XC9500XL 及XC9500XV 与XC9500 对比分析 |
| 5.1.2 工艺移植的可行性分析结论 |
| 5.2 XC9500 系列管脚兼容性方案 |
| 5.2.1 管脚兼容可行性分析 |
| 5.2.2 管脚兼容实施方案 |
| 第六章 结论与展望 |
| 致谢 |
| 参考文献 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 |
| 个人简历 |
（9）通用型阵列逻辑器件的版图设计（论文提纲范文）
| 摘要 |
| ABSTRACT |
| 第一章 可编程逻辑器件概述 |
| 1.1 可编程逻辑器件的特点 |
| 1.2 可编程逻辑器件基本构造 |
| 1.2.1 PLD 的基本结构 |
| 1.2.2 PLD 器件的分类 |
| 1.2.3 PLD 的编程单元 |
| 1.3 不挥发存储器简介 |
| 1.4 通用型阵列逻辑器件的应用 |
| 1.5 研究通用阵列逻辑器件的意义 |
| 1.6 总结 |
| 第二章 浮栅单元工作原理概述 |
| 2.1 概述 |
| 2.2 基本编程机制 |
| 2.2.1 Fowler-Nordheim 隧道效应 |
| 2.2.2 热电子注入 |
| 2.3 基本擦除机制 |
| 2.3.1 紫外线照射 |
| 2.3.2 FN 隧道效应 |
| 2.4 热载流子注入模型 |
| 2.4.1 幸运电子模型和高阈值电压VT |
| 2.5 NVM 可靠性问题 |
| 2.5.1 耐久力特性 |
| 2.5.2 数据保持能力特性 |
| 2.5.3 存储器干扰 |
| 2.6 结论 |
| 第三章 通用阵列逻辑器件电路设计 |
| 3.1 概述 |
| 3.2 GAL 器件介绍 |
| 3.2.1 概述 |
| 3.2.2 通用型 |
| 3.2.3 扩展型 |
| 3.2.4 异步型 |
| 3.2.5 异或型 |
| 3.2.6 大电流输出型 |
| 3.2.7 低功耗型 |
| 3.2.8 FPLA 型 |
| 3.3 总体结构 |
| 3.4 电路设计技术 |
| 3.4.1 输出逻辑宏单元（OLMC） |
| 3.4.2 阵列及编程控制逻辑设计 |
| 3.4.3 读取时间的优化 |
| 3.4.4 高压产生电路 |
| 3.4.5 其它功能 |
| 3.5 部分电路仿真结果 |
| 3.6 结论 |
| 第四章 通用阵列逻辑器件版图设计 |
| 4.1 版图设计流程 |
| 4.2 版图设计的工艺约束 |
| 4.2.1 闩锁（Latch UP） |
| 4.2.2 天线效应 |
| 4.3 阵列版图实现 |
| 4.4 阵列外围模块的修改和版图布局 |
| 4.5 其它模块的版图设计 |
| 4.6 测试模块 |
| 4.7 结论 |
| 第五章 通用阵列逻辑器件测试 |
| 5.1 器件编程测试 |
| 5.2 回读测试 |
| 5.3 擦除测试 |
| 5.4 逻辑功能及时序功能的测试 |
| 5.5 失效分析和失效试验 |
| 第六章 总结与展望 |
| 6.1 工作总结 |
| 6.2 工作展望 |
| 致谢 |
| 参考文献 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 |
| 个人简历 |
（10）可编程逻辑器件的历程与发展（论文提纲范文）
| 1 可编程逻辑器件的基本描述 |
| 2 可编程逻辑器件的分类与历史演变 |
| 2.1 可编程逻辑器件(PLD)的3种分类法[2] |
| 2.1.1 按与或阵列可编程性分类 |
| 2.1.2 按集成度分类 |
| 2.1.3 按编程工艺分类 |
| 2.2 可编程逻辑器件的历史演变 |
| 3 FPGA和CPLD |
| 3.1 FPGA和CPLD的概况 |
| 3.2 FPGA和CPLD的对比 |
| 3.3 同体优势 |
| 4 世界各可编程逻辑器件生产厂家对比 |
| 4.1 概况 |
| 4.2 四大主要FPGA公司 |
| 5 FPGA的未来发展趋势 |
| 5.1 大容量、低电压、低功耗FPGA |
| 5.2 系统级高密度FPGA |
| 5.3 FPGA和ASIC出现相互融合 |
| 5.4 动态可重构FPGA |
| 5.5 向高速可预测延时方向发展 |
| 5.6 向数模混合可编程方向发展 |
| 5.7 向多功能、嵌入式模块方向发展 |
| 5.8 向SOPC方向发展 |
| 6 总结 |
四、可编程逻辑器件PLD的应用（论文参考文献）
- [1]可编程逻辑器件在电力电子控制技术中的应用[J]. 唐家燕. 信息通信, 2017(09)
- [2]PLD的发展简史及应用展望[J]. 王康,沈祖斌. 科技视界, 2015(01)
- [3]基于CPLD的实验板研制开发与教学应用[D]. 刘显忠. 黑龙江大学, 2013(06)
- [4]可编程逻辑器件测试系统[D]. 徐云厚. 长江大学, 2013(03)
- [5]PLD安全缺陷模拟仿真关键技术研究[D]. 宋赟. 解放军信息工程大学, 2011(07)
- [6]PLD安全性漏洞检测平台研究与实现[D]. 周丽. 解放军信息工程大学, 2010(03)
- [7]基于单向壳核函数的公钥密码研究[D]. 袁哲. 吉林大学, 2010(09)
- [8]CPLD架构研究[D]. 黄国辉. 电子科技大学, 2009(03)
- [9]通用型阵列逻辑器件的版图设计[D]. 熊宣淋. 电子科技大学, 2009(03)
- [10]可编程逻辑器件的历程与发展[J]. 潘锐捷,陈彪,刘西安. 电子与封装, 2008(08)